Failure Analysis: High Technology Devices (De Gruyter STEM) - Tapa blanda

Sullivan Carleton, Daniel J. D. Eric J.

 
9781501524783: Failure Analysis: High Technology Devices (De Gruyter STEM)

Sinopsis

The book presents a unique view of failure analysis of high technology devices. It describes capabilities and limitations of many analytical techniques and testing paths and decisions best followed in example failure analysis studies.

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Acerca del autor

Daniel J. D. Sullivan, EAG Laboratories, USA. Eric J. Carleton, Arrhenius Inc., USA.

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