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The book presents a unique view of failure analysis of high technology devices. It describes capabilities and limitations of many analytical techniques and testing paths and decisions best followed in example failure analysis studies.
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Daniel J. D. Sullivan, EAG Laboratories, USA. Eric J. Carleton, Arrhenius Inc., USA.
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Failure Analysis: High Technology Devices (De Gruyter STEM)
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Failure Analysis : High Technology Devices
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Failure Analysis : High Technology Devices
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