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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard: 22B (Frontiers in Electronic Testing) - Tapa dura
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This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths.
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This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Hardcover)
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Hardcover. Condición: new. Hardcover. Minimization of power dissipation in very large scale integrated (VLSI) circuits is important to improve reliability and reduce packaging costs. While many techniques have investigated power minimization during the functional (normal) mode of operation, it is important to examine the power dissipation during the test circuit activity is substantially higher during test than during functional operation. For example, during the execution of built-in self-test (BIST) in-field sessions, excessive power dissipation can decrease the reliability of the circuit under test due to higher temperature and current density. This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. The first part of this book surveys the existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits. In the second part, several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths are presented. Focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. This text surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. Nº de ref. del artículo: 9781402072352
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
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Springer-Verlag New York Inc., 2003
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Condición: New. Focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. This text surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 189 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 297 x 210 x 12. Weight in Grams: 990. . 2003. Hardback. . . . . Nº de ref. del artículo: V9781402072352
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