Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing (Materials Library S.) - Tapa dura
Sinopsis
Digital Hardware Testing presents realistic transistor-level fault models and testing methods for all types of circuits. The discussion details design-for-testability and built-in self-test methods, with coverage of boundary scan and emerging technologies such as partial scan, cross check, and circular self-test-path.
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Digital Hardware Testing presents realistic transistor-level fault models and testing methods for all types of circuits. The discussion details design-for-testability and built-in self-test methods, with coverage of boundary scan and emerging technologies such as partial scan, cross check, and circular self-test-path.
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Digital Hardware Testing : Transistor-Level Fault Modeling and Testing
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Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing (Artech House Telecommunications Library)
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Digital Hardware Testing TransistorLevel Fault Modeling and Testing Materials Library S
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Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing
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Gebunden. Condición: New. InhaltsverzeichnisIntroduction to digital IC testing faults in digital circuits bridging faults in random logic open faults in random logic text generation and fault simulation problems testing of structured designs (programmable l. Nº de ref. del artículo: 898961687
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