Fundamentals of Modern VLSI Devices

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9780521559591: Fundamentals of Modern VLSI Devices

This book examines in detail the basic properties and design, including chip integration, of CMOS and bipolar VLSI devices and discusses the various factors that affect their performance. The authors begin with a thorough review of the relevant aspects of semiconductor physics, and proceed to a description of the design of CMOS and bipolar devices. The optimization of these devices for VLSI applications is also covered. The authors highlight the intricate interdependencies and subtle tradeoffs between those device parameters, such as power consumption and packing density, that affect circuit performance and manufacturability. They also discuss in detail the scaling, and physical limits to the scaling, of CMOS and bipolar devices. The book contains many exercises, and can be used as a textbook for senior undergraduate or first-year graduate courses on microelectronics or VLSI devices. It will also be a valuable reference volume for practicing engineers involved in research and development in the electronics industry.

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Book Description:

This textbook examines in detail the basic properties and design, including chip integration, of CMOS and bipolar VLSI devices and discusses the various factors that affect their performance. The authors give a thorough review of the relevant aspects of semiconductor physics, and proceed to a description of the design of CMOS and bipolar devices. They highlight the interdependencies and tradeoffs between those device parameters that affect circuit performance and manufacturability. They also discuss in detail the scaling, and limits to the scaling, of CMOS and bipolar devices.

About the Author:

Yuan Taur is a Professor of Electrical and Computer Engineering at the University of California, San Diego. He spent twenty years at IBM's T. J. Watson Research Center where he won numerous invention and achievement awards. He is an IEEE Fellow, Editor-in-Chief of IEEE Electron Device Letters, and holds thirteen US patents.

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Yuan Taur, Tak H. Ning
Editorial: Cambridge University Press (1998)
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