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Sinopsis
This volume reflects the rapid evolution of surface analysis techniques involving ion and neural spectroscopies. Sputtering techniques are comprehensively discussed in chapters covering instrumentation, theory, quantification, dynamic and static SIMS and various applications.
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Reseña del editor
This volume reflects the rapid evolution of surface analysis techniques involving ion and neural spectroscopies. Sputtering techniques are comprehensively discussed in chapters covering instrumentation, theory, quantification, dynamic and static SIMS and various applications.
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- EditorialJohn Wiley & Sons Ltd
- Año de publicación1996
- ISBN 10 0471964980
- ISBN 13 9780471964988
- EncuadernaciónTapa blanda
- IdiomaInglés
- Número de páginas756
- Contacto del fabricanteno disponible
(Ningún ejemplar disponible)
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