EMC Analysis Methods and Computational Models (Electrical & Electronics Engr)

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9780471155737: EMC Analysis Methods and Computational Models (Electrical & Electronics Engr)
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Describes and illustrates various modeling techniques which are applicable to the area of EMC and includes material previously available only in international reports or other hard-to-obtain references. Electromagnetic topology, lumped-parameter circuit models, the radiation process, scalar diffraction theory for apertures, transmission line modeling, and models for shielding are among the topics discussed. The accompanying disk contains four programs based on the models developed in the text and can be used to calculate diverse transmission line responses.

About the Author:

Frederick M. Tesche, PhD, is an EMC consultant to both government and industry in the areas of applied electromagnetics and computer techniques. Michel V. Ianoz, PhD, is a professor in EMC and high-voltage techniques at the Swiss Federal Institute of Technology at Lausanne. TorbjOrn Karlsson, PhD, is chief scientist at Emicon, an electromagnetics consulting company he cofounded.

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Tesche, Frederick M.; Tesche
Editorial: John Wiley Sons Inc, United States (1997)
ISBN 10: 047115573X ISBN 13: 9780471155737
Nuevos Tapa dura Primera edición Cantidad: 1
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The Book Depository
(London, Reino Unido)
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Descripción John Wiley Sons Inc, United States, 1997. Hardback. Estado de conservación: New. 1. Auflage. 239 x 157 mm. Language: English . Brand New Book. Describes and illustrates various modeling techniques which are applicable to the area of EMC and includes material previously available only in international reports or other hard-to-obtain references. Electromagnetic topology, lumped-parameter circuit models, the radiation process, scalar diffraction theory for apertures, transmission line modeling, and models for shielding are among the topics discussed. The accompanying disk contains four programs based on the models developed in the text and can be used to calculate diverse transmission line responses. Nº de ref. de la librería AAH9780471155737

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Tesche, Frederick M.; Tesche
Editorial: Wileyand#8211;Blackwell (1997)
ISBN 10: 047115573X ISBN 13: 9780471155737
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Descripción Wileyand#8211;Blackwell, 1997. HRD. Estado de conservación: New. New Book. Shipped from UK in 4 to 14 days. Established seller since 2000. Nº de ref. de la librería FW-9780471155737

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Tesche, Frederick M.; Tesche
Editorial: John Wiley Sons Inc, United States (1997)
ISBN 10: 047115573X ISBN 13: 9780471155737
Nuevos Tapa dura Primera edición Cantidad: 1
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Descripción John Wiley Sons Inc, United States, 1997. Hardback. Estado de conservación: New. 1. Auflage. 239 x 157 mm. Language: English . Brand New Book. Describes and illustrates various modeling techniques which are applicable to the area of EMC and includes material previously available only in international reports or other hard-to-obtain references. Electromagnetic topology, lumped-parameter circuit models, the radiation process, scalar diffraction theory for apertures, transmission line modeling, and models for shielding are among the topics discussed. The accompanying disk contains four programs based on the models developed in the text and can be used to calculate diverse transmission line responses. Nº de ref. de la librería AAH9780471155737

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Editorial: Wiley-Interscience (1996)
ISBN 10: 047115573X ISBN 13: 9780471155737
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Editorial: John Wiley & Sons (2016)
ISBN 10: 047115573X ISBN 13: 9780471155737
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Descripción 1996. Hardcover. Estado de conservación: New. 1st. 164mm x 37mm x 243mm. Hardcover. Describes and illustrates various modeling techniques which are applicable to the area of EMC and includes material previously available only in international reports or other hard-to-obta.Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. 656 pages. 1.107. Nº de ref. de la librería 9780471155737

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Editorial: Wiley-Interscience (1996)
ISBN 10: 047115573X ISBN 13: 9780471155737
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