Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science

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9780387765020: Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science
Críticas:

From the reviews of the second edition: "This book is intended to be used as a textbook for material science students studying the theory, operation, and application of the TEM. It is truly a book so thoughtfully written that ... it will provide a solid foundation for those studying material science. It is richly illustrated with full-color figures and illustrations throughout the text. ... There are an abundant number of references at the end of each chapter for further study ... . This is an outstanding book ... ." (IEEE Electrical Insulation Magazine, Vol. 26 (4), July/August, 2010) "D.B. Williams and C.B. Carter have now prepared a new edition, splendidly produced by Springer with colour throughout. ... This textbook is magnificent, written in a very readable style, immensely knowledgeable, drawing attention to difficulties and occasionally to unsolved problems. Any microscopist who has mastered ... the book relevant to his projects will be well armed for battle. ... Buy this book!" (P. W. Hawkes, Ultramicroscopy, Vol. 110, 2010)

Reseña del editor:

This profusely illustrated text on Transmission Electron Microscopy provides the necessary instructions for successful hands-on application of this versatile materials characterization technique. The new edition also includes an extensive collection of questions for the student, providing approximately 800 self-assessment questions and over 400 questions suitable for homework assignment.

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David B. Williams, C. Barry Carter
Editorial: Springer-Verlag New York Inc., New York, NY
ISBN 10: 0387765026 ISBN 13: 9780387765020
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David B. Williams
Editorial: Springer-Verlag New York Inc. (2008)
ISBN 10: 0387765026 ISBN 13: 9780387765020
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David B. Williams
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David B. Williams, C. Barry Carter
Editorial: Springer-Verlag New York Inc., United States (2009)
ISBN 10: 0387765026 ISBN 13: 9780387765020
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(London, Reino Unido)
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Descripción Springer-Verlag New York Inc., United States, 2009. Paperback. Estado de conservación: New. 2nd ed. 2009. 279 x 211 mm. Language: English . Brand New Book. This profusely illustrated text on Transmission Electron Microscopy provides the necessary instructions for successful hands-on application of this versatile materials characterization technique. The new edition also includes an extensive collection of questions for the student, providing approximately 800 self-assessment questions and over 400 questions suitable for homework assignment. Nº de ref. de la librería AAZ9780387765020

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David B. Williams, C. Barry Carter
Editorial: Springer-Verlag New York Inc., United States (2009)
ISBN 10: 0387765026 ISBN 13: 9780387765020
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Descripción Springer-Verlag New York Inc., United States, 2009. Paperback. Estado de conservación: New. 2nd ed. 2009. 279 x 211 mm. Language: English . Brand New Book. This profusely illustrated text on Transmission Electron Microscopy provides the necessary instructions for successful hands-on application of this versatile materials characterization technique. The new edition also includes an extensive collection of questions for the student, providing approximately 800 self-assessment questions and over 400 questions suitable for homework assignment. Nº de ref. de la librería AAZ9780387765020

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Williams, David B.; Carter, C. Barry
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Williams, David B. / Carter, C. Barry
ISBN 10: 0387765026 ISBN 13: 9780387765020
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English-Book-Service Mannheim
(Mannheim, Alemania)
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Descripción Estado de conservación: New. Publisher/Verlag: Springer, Berlin | Basics; Diffraction; Imaging; Spectrometry | This market-leading text has been fully updated and expanded in the first new edition for 12 years. Now with four-color illustrations and hundreds of new self-assessment questions, the text is a one-stop shop on this materials characterization technique. | This profusely illustrated text on Transmission Electron Microscopy provides the necessary instructions for successful hands-on application of this versatile materials characterization technique. The new edition also includes an extensive collection of questions for the student, providing approximately 800 self-assessment questions and over 400 questions suitable for homework assignment. | Basics.- The Transmission Electron Microscope.- Scattering and Diffraction.- Elastic Scattering.- Inelastic Scattering and Beam Damage.- Electron Sources.- Lenses, Apertures, and Resolution.- How to 'See' Electrons.- Pumps and Holders.- The Instrument.- Specimen Preparation.- Diffraction.- Diffraction in TEM.- Thinking in Reciprocal Space.- Diffracted Beams.- Bloch Waves.- Dispersion Surfaces.- Diffraction from Crystals.- Diffraction from Small Volumes.- Obtaining and Indexing Parallel-Beam Diffraction Patterns.- Kikuchi Diffraction.- Obtaining CBED Patterns.- Using Convergent-Beam Techniques.- Imaging.- Amplitude Contrast.- Phase-Contrast Images.- Thickness and Bending Effects.- Planar Defects.- Imaging Strain Fields.- Weak-Beam Dark-Field Microscopy.- High-Resolution TEM.- Other Imaging Techniques.- Image Simulation.- Processing and Quantifying Images.- Spectrometry.- X-ray Spectrometry.- X-ray Spectra and Images.- Qualitative X-ray Analysis and Imaging.- Quantitative X-ray Analysis.- Spatial Resolution and Minimum Detection.- Electron Energy-Loss Spectrometers and Filters.- Low-Loss and No-Loss Spectra and Images.- High Energy-Loss Spectra and Images.- Fine Structure and Finer Details. | Format: Paperback | Language/Sprache: english | 3005 gr | 281x216x62 mm | 775 pp. Nº de ref. de la librería K9780387765020

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DAVID B. WILLIAMS
Editorial: Springer (2009)
ISBN 10: 0387765026 ISBN 13: 9780387765020
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Descripción Springer, 2009. Paperback. Estado de conservación: NEW. 9780387765020 This listing is a new book, a title currently in-print which we order directly and immediately from the publisher. Nº de ref. de la librería HTANDREE0273924

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Editorial: Springer-Verlag New York Inc. Jul 2008 (2008)
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Descripción Springer-Verlag New York Inc. Jul 2008, 2008. Taschenbuch. Estado de conservación: Neu. 277x211x43 mm. Neuware - This profusely illustrated text on Transmission Electron Microscopy provides the necessary instructions for successful hands-on application of this versatile materials characterization technique. The new edition also includes an extensive collection of questions for the student, providing approximately 800 self-assessment questions and over 400 questions suitable for homework assignment. 775 pp. Englisch. Nº de ref. de la librería 9780387765020

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Editorial: Springer-Verlag New York Inc. Jul 2008 (2008)
ISBN 10: 0387765026 ISBN 13: 9780387765020
Nuevos Taschenbuch Cantidad: 2
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Descripción Springer-Verlag New York Inc. Jul 2008, 2008. Taschenbuch. Estado de conservación: Neu. 277x211x43 mm. Neuware - This profusely illustrated text on Transmission Electron Microscopy provides the necessary instructions for successful hands-on application of this versatile materials characterization technique. The new edition also includes an extensive collection of questions for the student, providing approximately 800 self-assessment questions and over 400 questions suitable for homework assignment. 775 pp. Englisch. Nº de ref. de la librería 9780387765020

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