Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis: Third Edition

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9780306472923: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis: Third Edition

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens. In addition techniques for the elimination of charging in non-conducting specimens are detailed.

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About the Author:

This text is written by a team of authors associated with SEM and X-ray Microanalysis Courses presented as part of the Lehigh University Microscopy Summer School. Several of the authors have participated in this activity for more than 30 years.

Review:

“There is no other single volume that covers as much theory and practice of SEM or X-ray microanalysis as Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, 3rd Edition does. It is clearly written ... well organized. ... This is a reference text that no SEM or EPMA laboratory should be without.” (Thomas J. Wilson, Scanning, Vol. 27 (4), July/August, 2005)

“As the authors pointed out, the number of equations in the book is kept to a minimum, and important conceptions are also explained in a qualitative manner. A lot of very distinct images and schematic drawings make for a very interesting book and help readers who study scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. The principal application and sample preparation given in this book are suitable for undergraduate students and technicians learning SEEM and EDS/WDS analyses. It is an excellent textbook for graduate students, and an outstanding reference for engineers, physical, and biological scientists.” (Microscopy and Microanalysis, Vol. 9 (5), October, 2003)

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1.

Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda Sawyer, J.R. Michael
Editorial: Springer (2003)
ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
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Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; David C. Joy; Charles E. Lyman; Patrick Echlin; Eric Lifshin; Linda Sawyer; J.R. Michael
Editorial: Springer (2003)
ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
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Goldstein, Joseph
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Goldstein, Joseph I.;Lifshin, Eric;Joy, David C.;Newbury, Dale E.;Lyman, Charles E.;Kchlin, Patrick;Sawyer, Linda;Michael, Joseph R.
Editorial: New York, New York, U.S.A.: Plenum Pub Corp (2002)
ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
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Goldstein, Joseph, Newbury, Dale E., Joy
Editorial: Springer (2003)
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Goldstein, Joseph, Newbury, Dale E., Joy, David C., Lyman, Charles E., Echlin, Patrick, Lifshin, Eric, Sawyer, Linda, Michael, J.R.
Editorial: Springer (2007)
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JOSEPH GOLDSTEIN
Editorial: Springer (2003)
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Joseph I. Goldstein
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Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, D. C. Joy
Editorial: Springer Science+Business Media, United States (2007)
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Descripción Springer Science+Business Media, United States, 2007. Mixed media product. Estado de conservación: New. Language: English . Brand New Book. This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens. In addition techniques for the elimination of charging in non-conducting specimens are detailed. 3rd Corrected ed. 2003. Corr. 2nd printing 2007. Nº de ref. de la librería AAC9780306472923

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10.

Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, D. C. Joy
Editorial: Springer Science+Business Media, United States (2007)
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Descripción Springer Science+Business Media, United States, 2007. Mixed media product. Estado de conservación: New. Language: English . Brand New Book. This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens. In addition techniques for the elimination of charging in non-conducting specimens are detailed. 3rd Corrected ed. 2003. Corr. 2nd printing 2007. Nº de ref. de la librería AAC9780306472923

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