Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis: Third Edition

4,32 valoración promedio
( 22 valoraciones por GoodReads )
 
9780306472923: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis: Third Edition

Book by Goldstein Joseph Newbury Dale E Joy David C Lyman

"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.

Críticas:

"There is no other single volume that covers as much theory and practice of SEM or X-ray microanalysis as Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, 3rd Edition does. It is clearly written [and] well organized[.]... This is a reference text that no SEM or EPMA laboratory should be without." --Thomas J. Wilson, in Scanning, Vol. 27, No. 4, July/August 2005

"As the authors pointed out, the number of equations in the book is kept to a minimum, and important conceptions are also explained in a qualitative manner. A lot of very distinct images and schematic drawings make for a very interesting book and help readers who study scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. The principal application and sample preparation given in this book are suitable for undergraduate students and technicians learning SEEM and EDS/WDS analyses. It is an excellent textbook for graduate students, and an outstanding reference for engineers, physical, and biological scientists."
(Microscopy and Microanalysis, 9:5 (October 2003)

Reseña del editor:

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens. In addition techniques for the elimination of charging in non-conducting specimens are detailed.

"Sobre este título" puede pertenecer a otra edición de este libro.

Comprar nuevo Ver libro

Gastos de envío: EUR 5,20
De Reino Unido a Estados Unidos de America

Destinos, gastos y plazos de envío

Añadir al carrito

Los mejores resultados en AbeBooks

1.

Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, D. C. Joy
Editorial: Springer Science+Business Media
ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
Nuevos Cantidad: > 20
Librería
Blackwell's
(Oxford, OX, Reino Unido)
Valoración
[?]

Descripción Springer Science+Business Media. multimedia item. Estado de conservación: New. Nº de ref. de la librería 9780306472923

Más información sobre esta librería | Hacer una pregunta a la librería

Comprar nuevo
EUR 62,63
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: EUR 5,20
De Reino Unido a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

2.

Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, D. C. Joy
Editorial: Springer Science+Business Media, United States (2007)
ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
Nuevos Cantidad: 1
Librería
The Book Depository
(London, Reino Unido)
Valoración
[?]

Descripción Springer Science+Business Media, United States, 2007. Mixed media product. Estado de conservación: New. 257 x 180 mm. Language: English . Brand New Book. This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens. In addition techniques for the elimination of charging in non-conducting specimens are detailed. 3rd Corrected ed. 2003. Corr. 2nd printing 2007. Nº de ref. de la librería AAZ9780306472923

Más información sobre esta librería | Hacer una pregunta a la librería

Comprar nuevo
EUR 70,40
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: GRATIS
De Reino Unido a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

3.

Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, D. C. Joy
Editorial: Springer Science+Business Media, United States (2007)
ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
Nuevos Cantidad: 1
Librería
The Book Depository US
(London, Reino Unido)
Valoración
[?]

Descripción Springer Science+Business Media, United States, 2007. Mixed media product. Estado de conservación: New. 257 x 180 mm. Language: English . Brand New Book. This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens. In addition techniques for the elimination of charging in non-conducting specimens are detailed. 3rd Corrected ed. 2003. Corr. 2nd printing 2007. Nº de ref. de la librería AAZ9780306472923

Más información sobre esta librería | Hacer una pregunta a la librería

Comprar nuevo
EUR 70,60
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: GRATIS
De Reino Unido a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

4.

Charles E. Lyman; Dale E. Newbury; David C. Joy; Eric Lifshin; J.R. Michael; Joseph Goldstein; Linda Sawyer; Patrick Echlin
ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
Nuevos Cantidad: 1
Librería
Speedy Hen LLC
(Sunrise, FL, Estados Unidos de America)
Valoración
[?]

Descripción Estado de conservación: New. Bookseller Inventory # ST0306472929. Nº de ref. de la librería ST0306472929

Más información sobre esta librería | Hacer una pregunta a la librería

Comprar nuevo
EUR 72,37
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: GRATIS
A Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

5.

Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E. (National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, USA); Joy, D.C.; Lyman, Charles E. (Lehigh
Editorial: Springer Science+Business Media (2007)
ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
Nuevos Tapa dura Cantidad: 1
Librería
Valoración
[?]

Descripción Springer Science+Business Media, 2007. Estado de conservación: New. 2007. 3rd. Hardcover. An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Num Pages: 690 pages, biography. BIC Classification: PDND; TGM. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 259 x 185 x 35. Weight in Grams: 1694. . . . . . . Nº de ref. de la librería V9780306472923

Más información sobre esta librería | Hacer una pregunta a la librería

Comprar nuevo
EUR 75,25
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: GRATIS
De Irlanda a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

6.

Charles E. Lyman; Dale E. Newbury; David C. Joy; Eric Lifshin; J.R. Michael; Joseph Goldstein; Linda Sawyer; Patrick Echlin
Editorial: Springer (2007)
ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
Nuevos Tapa dura Cantidad: 1
Librería
Ria Christie Collections
(Uxbridge, Reino Unido)
Valoración
[?]

Descripción Springer, 2007. Estado de conservación: New. book. Nº de ref. de la librería ria9780306472923_rkm

Más información sobre esta librería | Hacer una pregunta a la librería

Comprar nuevo
EUR 72,52
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: EUR 3,86
De Reino Unido a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

7.

Charles E. Lyman; Dale E. Newbury; David C. Joy; Eric Lifshin; J.R. Michael; Joseph Goldstein; Linda Sawyer; Patrick Echlin
ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
Nuevos Cantidad: 1
Librería
BWB
(Valley Stream, NY, Estados Unidos de America)
Valoración
[?]

Descripción Estado de conservación: New. Depending on your location, this item may ship from the US or UK. Nº de ref. de la librería 97803064729230000000

Más información sobre esta librería | Hacer una pregunta a la librería

Comprar nuevo
EUR 79,77
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: GRATIS
A Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

8.

Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E. (National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, USA); Joy, D.C.; Lyman, Charles E. (Lehigh
Editorial: Springer Science+Business Media
ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
Nuevos Tapa dura Cantidad: 1
Librería
Kennys Bookstore
(Olney, MD, Estados Unidos de America)
Valoración
[?]

Descripción Springer Science+Business Media. Estado de conservación: New. 2007. 3rd. Hardcover. An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Num Pages: 690 pages, biography. BIC Classification: PDND; TGM. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 259 x 185 x 35. Weight in Grams: 1694. . . . . . Books ship from the US and Ireland. Nº de ref. de la librería V9780306472923

Más información sobre esta librería | Hacer una pregunta a la librería

Comprar nuevo
EUR 80,68
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: GRATIS
A Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

9.

Joseph I. Goldstein
Editorial: Springer Science+Business Media (2002)
ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
Nuevos Cantidad: 1
Librería
Books2Anywhere
(Fairford, GLOS, Reino Unido)
Valoración
[?]

Descripción Springer Science+Business Media, 2002. UNK. Estado de conservación: New. New Book. Shipped from UK in 4 to 14 days. Established seller since 2000. Nº de ref. de la librería GB-9780306472923

Más información sobre esta librería | Hacer una pregunta a la librería

Comprar nuevo
EUR 75,61
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: EUR 10,40
De Reino Unido a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

10.

Goldstein, Joseph I.;Lifshin, Eric;Joy, David C.;Newbury, Dale E.;Lyman, Charles E.;Kchlin, Patrick;Sawyer, Linda;Michael, Joseph R.
Editorial: New York, New York, U.S.A.: Plenum Pub Corp (2002)
ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
Nuevos Tapa dura Cantidad: 11
Librería
LINDABOOK
(Taipei, TP, Taiwan)
Valoración
[?]

Descripción New York, New York, U.S.A.: Plenum Pub Corp, 2002. Hardcover. Estado de conservación: New. 3rd Edition. Ship out 1 business day,Brand new, Free tracking number usually 2-4 biz days delivery to worldwide Same shipping fee with US, Canada,Europe country, Australia, item will ship out from either LA or Asia,k. Nº de ref. de la librería ABE-5433643520

Más información sobre esta librería | Hacer una pregunta a la librería

Comprar nuevo
EUR 79,22
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: EUR 9,17
De Taiwan a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

Existen otras copia(s) de este libro

Ver todos los resultados de su búsqueda