Atomic Force Microscopy

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9780199570454: Atomic Force Microscopy
Críticas:

i Atomic Force Microscopy r is a great introduction to AFMs for beginners and, although light on theory, also serves as a good starting point for more serious users. ( Udo D. Schwarz, Physics Today)

Reseña del editor:

Atomic force microscopy is an amazing technique that allies a versatile methodology (that allows measurement of samples in liquid, vacuum or air) to imaging with unprecedented resolution. But it goes one step further than conventional microscopic techniques; it allows us to make measurements of magnetic, electrical or mechanical properties of the widest possible range of samples, with nanometre resolution. This book will demystify AFM for the reader, making it easy to understand, and to use. It is written by authors who together have more than 30 years experience in the design, construction and use of AFMs and will explain why the microscopes are made the way they are, how they should be used, what data they can produce, and what can be done with the data. Illustrative examples from the physical sciences, materials science, life sciences, nanotechnology and industry illustrate the different capabilities of the technique.

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1.

Peter Eaton, Paul West
Editorial: Oxford University Press, United Kingdom (2010)
ISBN 10: 0199570450 ISBN 13: 9780199570454
Nuevos Tapa dura Cantidad: 10
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The Book Depository US
(London, Reino Unido)
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Descripción Oxford University Press, United Kingdom, 2010. Hardback. Estado de conservación: New. 248 x 168 mm. Language: English . Brand New Book. Atomic force microscopy is an amazing technique that allies a versatile methodology (that allows measurement of samples in liquid, vacuum or air) to imaging with unprecedented resolution. But it goes one step further than conventional microscopic techniques; it allows us to make measurements of magnetic, electrical or mechanical properties of the widest possible range of samples, with nanometre resolution. This book will demystify AFM for the reader, making it easy to understand, and to use. It is written by authors who together have more than 30 years experience in the design, construction and use of AFMs and will explain why the microscopes are made the way they are, how they should be used, what data they can produce, and what can be done with the data. Illustrative examples from the physical sciences, materials science, life sciences, nanotechnology and industry illustrate the different capabilities of the technique. Nº de ref. de la librería AOP9780199570454

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Peter Eaton, Paul West
Editorial: Oxford University Press, United Kingdom (2010)
ISBN 10: 0199570450 ISBN 13: 9780199570454
Nuevos Tapa dura Cantidad: 10
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Descripción Oxford University Press, United Kingdom, 2010. Hardback. Estado de conservación: New. 248 x 168 mm. Language: English . Brand New Book. Atomic force microscopy is an amazing technique that allies a versatile methodology (that allows measurement of samples in liquid, vacuum or air) to imaging with unprecedented resolution. But it goes one step further than conventional microscopic techniques; it allows us to make measurements of magnetic, electrical or mechanical properties of the widest possible range of samples, with nanometre resolution. This book will demystify AFM for the reader, making it easy to understand, and to use. It is written by authors who together have more than 30 years experience in the design, construction and use of AFMs and will explain why the microscopes are made the way they are, how they should be used, what data they can produce, and what can be done with the data. Illustrative examples from the physical sciences, materials science, life sciences, nanotechnology and industry illustrate the different capabilities of the technique. Nº de ref. de la librería AOP9780199570454

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Eaton, Peter; West, Paul
ISBN 10: 0199570450 ISBN 13: 9780199570454
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Descripción Estado de conservación: New. Depending on your location, this item may ship from the US or UK. Nº de ref. de la librería 97801995704540000000

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Eaton, Peter
Editorial: OUP Oxford (2010)
ISBN 10: 0199570450 ISBN 13: 9780199570454
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Descripción OUP Oxford, 2010. HRD. Estado de conservación: New. New Book. Shipped from UK in 4 to 14 days. Established seller since 2000. Nº de ref. de la librería FU-9780199570454

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Peter Eaton, Paul West
Editorial: Oxford University Press
ISBN 10: 0199570450 ISBN 13: 9780199570454
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Eaton, Peter/ West, Paul
Editorial: Oxford Univ Pr (2010)
ISBN 10: 0199570450 ISBN 13: 9780199570454
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Descripción Oxford Univ Pr, 2010. Hardcover. Estado de conservación: Brand New. 248 pages. 9.75x7.00x0.75 inches. In Stock. Nº de ref. de la librería __0199570450

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Eaton, Peter; West, Paul
Editorial: Oxford University Press (2010)
ISBN 10: 0199570450 ISBN 13: 9780199570454
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(Rumford, ME, Estados Unidos de America)
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Peter Eaton
ISBN 10: 0199570450 ISBN 13: 9780199570454
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Descripción 2010. Hardcover. Estado de conservación: New. 175mm x 18mm x 246mm. Hardcover. Atomic force microscopy is an amazing technique that allies a versatile methodology (that allows measurement of samples in liquid, vacuum or air) to imaging with unprecedented resolution. .Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. 248 pages. 0.658. Nº de ref. de la librería 9780199570454

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9.

Peter Eaton, Paul West
Editorial: Oxford University Press, USA (2010)
ISBN 10: 0199570450 ISBN 13: 9780199570454
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Descripción Oxford University Press, USA, 2010. Hardcover. Estado de conservación: New. Nº de ref. de la librería DADAX0199570450

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10.

Eaton, Peter, West, Paul
Editorial: Oxford University Press (2010)
ISBN 10: 0199570450 ISBN 13: 9780199570454
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