Monte Carlo Modeling for Electron Microscopy and Microanalysis (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)

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9780195088748: Monte Carlo Modeling for Electron Microscopy and Microanalysis (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
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"For what it aspires to accomplish, this book succeeds and can be recommended on that basis." --Journal of the American Chemical Society"Provides an outstanding introduction for the Microscopist seeking to make new use of this powerful simulation tool, as well as a great resource for established modelers looking to extend their knowledge. . .clearly written and strongly supported by practical examples throughout." --RadiationPhysics and Chemistry

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`... provides an outstanding introduction for the microscopist seeking to make new use of this powerful simulation tool, as well as a great resource for established modelers looking to extend their knowledge... clearly written and strongly supported by practical examples throughout.' Radiation and Physical Chemistry

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Joy, David C.
Editorial: Oxford University Press (2016)
ISBN 10: 0195088743 ISBN 13: 9780195088748
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Ria Christie Collections
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Descripción Oxford University Press, 2016. Paperback. Estado de conservación: New. PRINT ON DEMAND Book; New; Publication Year 2016; Not Signed; Fast Shipping from the UK. No. book. Nº de ref. de la librería ria9780195088748_lsuk

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Joy, David C.
Editorial: OUP USA (1995)
ISBN 10: 0195088743 ISBN 13: 9780195088748
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Joy, David C.
Editorial: Oxford University Press Inc, United States (1995)
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Descripción Oxford University Press Inc, United States, 1995. Hardback. Estado de conservación: New. 236 x 162 mm. Language: English . Brand New Book ***** Print on Demand *****. This book describes how Monte Carlo modeling methods can be applied to Electron Microscopy and Microanalysis. Computer programs for two basic types of Monte carlo simulation are developed from physical models of the electron scattering process; a Single Scattering program capable of high accuracy but requiring long computation times, and a Plural Scattering program which is less accurate but much more rapid. The programs are optimised for use on personal computers and provide a real time graphical display of the interaction. These programs are then used as the starting point for the development of programs aimed at studying particular effects in the electron microscope including backscattering, secondary electron production, EBIC and cathodo- luminescence imaging, and X- ray microanalysis. The computer code is given in a fully annotated format so that it may be readily be modified for use in specific problems. Many examples of the applications of these methods are provided, together with a complete bibliography. Nº de ref. de la librería APC9780195088748

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Descripción OUP USA, 1995. Hardcover. Estado de conservación: Brand New. 224 pages. 9.75x6.50x0.75 inches. In Stock. Nº de ref. de la librería 0195088743

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